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環(huán)試資料
CENTRAL
前言
1986年1月28日，美國“挑戰(zhàn)者”號航天飛機(jī)升空73秒后，突然爆炸，機(jī)上7名宇航員全部殉難。這是人類航天史上的一個大悲劇。事后美國有關(guān)部門對航天飛機(jī)爆炸的原因進(jìn)行了調(diào)查，調(diào)查結(jié)果表明：由于航天飛機(jī)發(fā)射的前一天，美國突降大雪，天氣寒冷，致使燃料艙的一個橡膠密封零件，經(jīng)受不住寒冷環(huán)境條件的考驗，從而造成航天飛機(jī)的爆炸，其損失是相當(dāng)慘重的。沉痛的教訓(xùn)使人們更加注重產(chǎn)品對環(huán)境條件的適應(yīng)性，這就是環(huán)境技術(shù)。
環(huán)境技術(shù)是一項實用的基礎(chǔ)技術(shù)研究，是穩(wěn)定產(chǎn)品質(zhì)量和提高產(chǎn)品質(zhì)量的重要技術(shù)措施之一。其主要任務(wù)是研究環(huán)境對產(chǎn)品的影響，解決產(chǎn)品的貯存、運(yùn)輸或使用中的可靠性問題。主要包括研究產(chǎn)品的各種環(huán)境條件、針對產(chǎn)品所處的特殊環(huán)境研究相應(yīng)的防護(hù)技術(shù)以及研究和制訂環(huán)境試驗方法以鑒別產(chǎn)品對環(huán)境的適應(yīng)能力等。
評價產(chǎn)品的價值不應(yīng)該僅僅局限于對產(chǎn)品自身功能與性能進(jìn)行評價。換句話說，質(zhì)量是產(chǎn)品價值的基礎(chǔ)，產(chǎn)品價值取決于其自身質(zhì)量。產(chǎn)品投放到市場后發(fā)生質(zhì)量問題時，性能的損壞程度并不直接影響產(chǎn)品成本，但是對于廠家來講損失莫過于品牌信譽(yù)的損失。為了避免這些損失，在產(chǎn)品投放市場之前，就必須要對產(chǎn)品作質(zhì)量鑒定。環(huán)境試驗不僅能夠通過模擬試驗和產(chǎn)品壽命老化試驗對產(chǎn)品進(jìn)行質(zhì)量鑒定，還是質(zhì)量保證體系中必不可少的先決條件；同時可用來評價防護(hù)措施的效果和鑒定產(chǎn)品對環(huán)境的適應(yīng)能力，也可以摸清環(huán)境因素的影響程度及其使用處理。
本文將簡單介紹一下環(huán)境試驗的基礎(chǔ)概念知識，以及就和溫度相關(guān)的環(huán)境試驗設(shè)備作以簡要介紹。
1.環(huán)境試驗介紹
環(huán)境試驗作為可靠性試驗的一種類型已經(jīng)發(fā)展成為一種預(yù)測產(chǎn)品使用環(huán)境是如何影響產(chǎn)品的性能和功能的方法。也就是說，在產(chǎn)品投入市場之前，環(huán)境試驗被用來評估環(huán)境影響產(chǎn)品的程度；當(dāng)產(chǎn)品的功能受到了影響，環(huán)境試驗被用來查明原因，并采取措施保護(hù)產(chǎn)品免受環(huán)境影響以保持產(chǎn)品的可靠性。這些試驗已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)地超過了其最初的目的，現(xiàn)在被廣泛應(yīng)用于包括材料和產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)過程中的各種不同檢查、運(yùn)輸之前的檢驗和運(yùn)輸后的質(zhì)量控制，也被用來分析產(chǎn)品的實際使用過程中出現(xiàn)的缺陷以及新產(chǎn)品的改進(jìn)。環(huán)境試驗對于檢測方法和保持產(chǎn)品可靠性是非常有效的。
我們這里講的環(huán)境試驗是狹義的，實際是指人工模擬的環(huán)境試驗（以下稱為環(huán)境試驗）。廣義上環(huán)境試驗基本分為“自然暴露試驗”、“人工模擬試驗”和“現(xiàn)場運(yùn)行試驗”三類。自然暴露試驗，是將樣品長期暴露在自然環(huán)境條件下進(jìn)行測試?，F(xiàn)場運(yùn)行試驗，是將樣品裝置在各種典型的使用現(xiàn)場并使它處于正常運(yùn)行狀態(tài)進(jìn)行測試。這兩種試驗都能直接反映產(chǎn)品實際使用中的性能和可靠性，也是驗證人工模擬試驗準(zhǔn)確性的基礎(chǔ)。但是試驗周期都較長，花費(fèi)人力物力大，并且前者試驗條件不能控制，影響試驗的再現(xiàn)性，且有時跟不上產(chǎn)品的發(fā)展；后者數(shù)據(jù)反饋慢。因此為了在較短時間內(nèi)能鑒定產(chǎn)品對環(huán)境的適應(yīng)能力，在科研和生產(chǎn)工作中多采用人工模擬環(huán)境試驗，即在實驗室的試驗設(shè)備（箱或室）內(nèi)模擬一個或多個環(huán)境因素的作用，并予以適當(dāng)?shù)膹?qiáng)化。人工模擬試驗的試驗條件的確定，要求既能模擬環(huán)境中主要因素影響的真實性，又能在時間上起一定的加速作用，但是加速的程度不應(yīng)改變產(chǎn)品實際損壞機(jī)理的規(guī)律。為此，人工模擬試驗的試驗條件和方法必須與產(chǎn)品環(huán)境條件的等級、數(shù)值有機(jī)地聯(lián)系起來。
如圖1所示，環(huán)境試驗簡單劃分可分為“氣候環(huán)境試驗”、“機(jī)械環(huán)境試驗”和“綜合環(huán)境試驗”。與氣候有關(guān)的環(huán)境試驗包括溫度、濕度與壓力等環(huán)境應(yīng)力試驗，而機(jī)械環(huán)境試驗則包括沖擊和振動等環(huán)境應(yīng)力試驗，綜合環(huán)境試驗則是綜合氣候和機(jī)械等環(huán)境因素的應(yīng)力試驗。
當(dāng)然，使用環(huán)境試驗設(shè)備進(jìn)行的試驗并不可能完全精確地再現(xiàn)出產(chǎn)品的使用環(huán)境以及模擬出所有的環(huán)境因素，在這里必須理解環(huán)境試驗的局限性。由單一因素（溫度、濕度、壓力、振動、沖擊或某一物質(zhì)如鹽）構(gòu)成的環(huán)境試驗稱之為簡單環(huán)境試驗。實際上產(chǎn)生完全單一的環(huán)境很困難，而且大部分試驗環(huán)境都是十分復(fù)雜的。因此在設(shè)計試驗條件時，試驗人員需要選擇對產(chǎn)品有最大影響最為重要的環(huán)境因素，所以說環(huán)境試驗只能是一個與真實環(huán)境還存在很大區(qū)別的人為環(huán)境。
一般性，產(chǎn)品的缺陷是由以下幾個方面造成的：
a. 原材料的濃度和多樣性、摩擦、磨損、應(yīng)力、熱、電流以及電場強(qiáng)度，這些因素會影響產(chǎn)品某些方面的性能；
b. 在產(chǎn)品設(shè)計和制造過程中由產(chǎn)品特性（原材料、制造工藝、結(jié)構(gòu)部件以及大規(guī)模生產(chǎn)時）所引發(fā)的因素；
c. 外界環(huán)境產(chǎn)生的應(yīng)力。
因此，試驗條件必須依據(jù)具體的產(chǎn)品條件而定，對于不同的產(chǎn)品是不一樣的。如果被試驗研究的產(chǎn)品發(fā)生了變化，相應(yīng)的環(huán)境試驗也要改變。
2.溫度應(yīng)力
環(huán)境應(yīng)力條件可以引起產(chǎn)品失效，Hughes航空公司（美國）技術(shù)資料明確地表示了失效與環(huán)境應(yīng)力之關(guān)（見圖2）?？梢娫诟鞣N應(yīng)力影響之中溫度和濕度環(huán)境應(yīng)力所引發(fā)地失效占所有環(huán)境應(yīng)力引發(fā)失效的60％左右，而溫度應(yīng)力與失效之間存在著密切的關(guān)系。
目前，在世界各地，無論從陸地到海洋或者從高空到宇宙空間，都廣泛地使用電子電工以及其他領(lǐng)域的產(chǎn)品。由于氣溫隨著高度的增加而降低或在冬季高緯度地區(qū)，或者有些產(chǎn)品所在位置接近制冷元件、設(shè)備或系統(tǒng)，或者有些產(chǎn)品本身就包括制冷元件、設(shè)備或系統(tǒng)，從而產(chǎn)生低溫環(huán)境。低溫幾乎對所有的材料都會產(chǎn)生不同程度的有害影響，構(gòu)成產(chǎn)品的各種材料的物理性能、電性能等將發(fā)生變化，導(dǎo)致暫時性或永久性的性能下降，甚至引起失效。
圖2 環(huán)境應(yīng)力與失效之關(guān)系
同樣，低緯度熱帶地區(qū)的自然高溫、太陽輻射的增溫、通風(fēng)不良引起的溫升以及散熱樣品在使用中自身發(fā)熱引起的溫升等產(chǎn)生的高溫，高溫會使電子組合可靠性下降，機(jī)械結(jié)構(gòu)的密封件、橡膠件和塑料件等受高溫和太陽照射作用會迅速老化和劣化，其他各種材料的結(jié)構(gòu)、物理性能、電性能也會發(fā)生很大的變化，導(dǎo)致暫時或永久性的損傷和性能變化。
另外，在產(chǎn)品貯存、運(yùn)輸、使用和安裝過程以及中，除自然氣候的變化以外，也會遇到因人類的社會實踐而誘發(fā)的環(huán)境溫度的變化。例如設(shè)備從溫度較高的室內(nèi)移到溫度相對較低的室外；或者從溫度相對較低的室外移到溫度較高的室內(nèi)；或者在室外使用的設(shè)備在強(qiáng)烈的太陽輻射之后突然降雨或浸到冷水；或者溫度的極度升高導(dǎo)致焊錫回流現(xiàn)象出現(xiàn)，或者啟動馬達(dá)時周圍器件的溫度急速升高，關(guān)閉馬達(dá)時周圍器件會出現(xiàn)溫度驟然下降；或者設(shè)備可能在溫度較低地環(huán)境中連接到電源上，導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生陡峭的溫度梯度，在溫度較低地環(huán)境中切斷電源可能會導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生相反方向陡峭的溫度梯度；或者當(dāng)航空器起飛或者降落時，航空器機(jī)載外部器材可能會出現(xiàn)溫度地急劇變化等等。由于急劇的溫度變化將使產(chǎn)品受到一定熱沖擊力，在這種熱沖擊力的作用下，將導(dǎo)致電子電工元件的涂覆層脫落、密封材料龜裂甚至破碎、填充材料泄漏等，從而引起電子元器件電性能下降；對于由不同材料構(gòu)成的產(chǎn)品，由于溫度變化時產(chǎn)品受熱不均勻，導(dǎo)致產(chǎn)品變形、開裂、破碎等。由于溫度變化產(chǎn)生較大的溫差，低溫時產(chǎn)品表面會產(chǎn)生凝露或結(jié)霜，高溫時蒸發(fā)或融化，如此高低溫反復(fù)作用的結(jié)果導(dǎo)致和加速了產(chǎn)品的腐蝕。
下表給出了溫度應(yīng)力引發(fā)失效的主要類型。
表1 溫度應(yīng)力引發(fā)失效的主要類型
因而，當(dāng)討論與溫度有關(guān)的產(chǎn)品壽命時，一般采用“θ℃規(guī)則”的表達(dá)方式。具體應(yīng)用時可以表達(dá)為“10℃規(guī)則”等，例如當(dāng)周圍環(huán)境溫度上升10℃時，產(chǎn)品壽命就會減少一半；當(dāng)周圍環(huán)境溫度上升20℃時，產(chǎn)品壽命就會減少到四分之一。這種規(guī)則可以說明溫度是如何影響產(chǎn)品壽命（失效）的。
反之，人們可以在較短的時間內(nèi)，利用升高環(huán)境溫度或降低環(huán)境溫度或利用超高溫和超低溫的交替來加速產(chǎn)品的失效現(xiàn)象發(fā)生，確定產(chǎn)品的特性變化以及由于構(gòu)成元器件的異種材料熱膨脹系數(shù)不同而造成的故障問題。多應(yīng)用于開發(fā)篩選試驗、材料特性試驗、極限試驗、評估試驗、品質(zhì)確認(rèn)試驗、加速壽命老化試驗等多種場合的需要。
3.溫度試驗設(shè)備
溫度試驗設(shè)備一般由工作室、調(diào)節(jié)設(shè)備、輔助設(shè)備、控制系統(tǒng)組成。其中調(diào)節(jié)系統(tǒng)包括加熱器、蒸發(fā)器和送風(fēng)裝置等，輔助設(shè)備主要室制冷機(jī)組，控制系統(tǒng)包括溫度控制器、程序設(shè)定器、安全報警裝置等。
加熱器多用電阻絲或電熱管的電加熱方式實現(xiàn)；除了對無散熱試樣高溫試驗的干燥箱可以采用自然加熱以外，一般都要都配有送風(fēng)裝置進(jìn)行強(qiáng)迫空氣循環(huán)，送風(fēng)方式多用上側(cè)送下側(cè)回或全面孔板頂送下側(cè)回的方式，對于整個試驗設(shè)備的均勻性能很重要。
制冷方式使用較多為機(jī)械制冷，冷凍機(jī)有半封閉或全封閉形式，冷卻回路也有水冷形式或空冷形式，冷媒現(xiàn)已多采用環(huán)保型冷媒，節(jié)流方式采用毛細(xì)管或者電子膨脹閥方式，可以提高精度和回路的壽命，并且能長期連續(xù)工作。
控制系統(tǒng)現(xiàn)在一般采用PID方式，使加熱功率隨設(shè)備實際溫度與設(shè)定溫度偏差自動進(jìn)行調(diào)節(jié)、控制，實現(xiàn)無級調(diào)節(jié)，溫度波動度小；顯示部分也由以前數(shù)顯方式提升到液晶觸摸屏方式，例如ESPEC集團(tuán)的P計裝就是采用6.54英寸TFT彩色液晶顯示畫面，清晰美觀，更便于操作。
另外，設(shè)備的保溫層采用玻璃棉或者聚氨酯發(fā)泡層，導(dǎo)熱系數(shù)小，耐溫性好。溫度檢測采用熱電偶、鉑電阻和熱敏電阻方式等，精度高。
進(jìn)行溫度試驗時需要考慮詳盡周全，所以考慮選擇相應(yīng)合適的試驗設(shè)備也是至關(guān)重要的。
1. 必須要求測試范圍要滿足產(chǎn)品失效可能性試驗范圍，即無論是高溫箱還是低溫箱或者冷熱沖擊箱都應(yīng)能夠滿足試驗要求所規(guī)定的極值溫度條件。
2. 必須以保證試驗樣品的體積不應(yīng)大于試驗設(shè)備工作容積的1/5的原則來選擇試驗設(shè)備。
3. 為保證試驗區(qū)內(nèi)溫度的均勻性，根據(jù)樣品的散熱性來選擇是否采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)或無強(qiáng)迫空氣循環(huán)方式。例如上海ESPEC生產(chǎn)的LG型干燥箱采用熱風(fēng)自然對流方式，特別適宜粉狀物干燥，而LC型干燥箱就采用熱風(fēng)強(qiáng)制循環(huán)方式。設(shè)備溫度分布的差異對試驗結(jié)果影響會更大，當(dāng)采用較大的樣品時，或者在同一時間測試的樣品數(shù)量較大時，試驗的結(jié)果將隨著位置的不同而存在很大差別，因此應(yīng)該選擇溫度均勻性盡可能好的設(shè)備。例如上海ESPEC生產(chǎn)的Z系列調(diào)溫箱，均勻性達(dá)到2.0℃。
4. 樣品溫度有采用上風(fēng)和采用下風(fēng)傳感器溫度測量兩種方式。設(shè)備的溫度控制傳感器位置及控制方法是可以選擇的，要根據(jù)試驗要求選擇合適的設(shè)備。
5. 防止試驗區(qū)產(chǎn)生熱輻射或者熱傳導(dǎo)所引起的樣品吸熱或放熱，要求設(shè)備的加熱或冷卻系統(tǒng)裝置對樣品無影響。
6. 便于記錄、顯示，進(jìn)行循環(huán)試驗時要求安裝自動計數(shù)器、指示燈、記錄設(shè)備以及自動關(guān)閉等儀表裝置。
7. 便于樣品放置可以要求用于放置或懸掛的樣品架，且樣品架不會因高低溫變化改變其機(jī)械性能。
8. 應(yīng)具有將測試電源引入設(shè)備工作室內(nèi)的引線孔。
9. 無論對于樣品的損壞性和試驗人員安全都要有保護(hù)防范措施。例如設(shè)有觀察窗及照明，設(shè)有電源斷相、缺水、超溫保護(hù)、操作人員保護(hù)等報警裝置。
10. 是否需要遠(yuǎn)程遙控監(jiān)測功能。
使用溫度試驗設(shè)備時的注意事項：
1. 進(jìn)行大塊樣品試驗時上升氣流和下降氣流會出現(xiàn)溫濕度偏差，因此應(yīng)該仔細(xì)考慮放置樣品位置。盡量放置在試驗設(shè)備工作空間的中心位置上，樣品之間不得互相接觸和重疊，應(yīng)留有一定的間隔以使空氣流通；而且還應(yīng)該保證進(jìn)行試驗時樣品易于移動，測試時容易替換樣品。
2. 檢查試驗區(qū)內(nèi)有無油氣等易揮發(fā)性物質(zhì)，檢查有無氣味的物質(zhì)，這類物質(zhì)試驗后果必須預(yù)先進(jìn)行確認(rèn)。
3. 注意確認(rèn)試驗區(qū)內(nèi)試驗樣品的溫度狀況。
4.為保持溫度區(qū)內(nèi)溫度一致，需要盡可能保證試驗環(huán)境溫度及設(shè)備動力電源波動最小，確保試驗樣品不產(chǎn)生熱輻射并不吸收熱量從而保證試驗區(qū)溫度平穩(wěn)。
5.在溫度試驗設(shè)備結(jié)束測試以后，迅速取走試驗樣品會對樣品產(chǎn)生不必要的應(yīng)力，并可能得到意想不到的結(jié)果。因此，必須在試驗樣品冷卻到環(huán)境溫度后才能取出樣品。
6.試驗樣品的安裝和支撐架的熱導(dǎo)率應(yīng)低，以保證試驗樣品與安裝和支撐架間處于一種絕熱狀態(tài)。
不同產(chǎn)品的試驗內(nèi)容是由試驗要求者、設(shè)計者以及試驗人員共同決定的。從提供試驗相符合的試驗設(shè)備的角度出發(fā)，建立一個試驗設(shè)備的技術(shù)規(guī)格框架，試驗設(shè)備供應(yīng)商可以根據(jù)這個框架來提供設(shè)備的具體規(guī)格。每一種可模擬試驗環(huán)境的試驗設(shè)備一般都有測量系統(tǒng)，因此使用現(xiàn)成的設(shè)備和購買新設(shè)備都是非常容易的。簡單的試驗設(shè)備也可以自己動手制造，但是要考慮成本、試驗結(jié)果的可靠性、精確控制程度以及連續(xù)運(yùn)轉(zhuǎn)的安全因素等。
結(jié)語
環(huán)境試驗是一個可使產(chǎn)品增值的過程，不容忽視。而溫度型環(huán)境試驗作為環(huán)境試驗中最為基礎(chǔ)的一種，運(yùn)用領(lǐng)域及其廣泛，大大提高了我國軍用和民用產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性和可靠性，并直接導(dǎo)致了產(chǎn)品的質(zhì)量提升。本文就溫度應(yīng)力和相關(guān)的溫度型環(huán)境試驗設(shè)備作了簡單的基礎(chǔ)的介紹，根據(jù)使用要求準(zhǔn)確選擇使用，才能達(dá)到環(huán)境試驗的真正目的。
參考文獻(xiàn)：
1.《環(huán)境試驗》，王樹榮等，1987
2.《GB10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件》
3.《GB10592-89 高、低溫試驗箱技術(shù)條件》
4.《GB11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件》
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